ASTM F53-1968(1978) 硅片的厚度及厚度变化的试验方法

时间:2024-04-29 10:52:46 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8455
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【英文标准名称】:RecommendedPracticeforMeasurementofSublimationFromThermionicEmitters
【原文标准名称】:硅片的厚度及厚度变化的试验方法
【标准号】:ASTMF53-1968(1978)
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1968
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:
【标准类型】:(Practice)
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;厚度;垫圈;电子工程;硅
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:H81
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:


基本信息
标准名称:电工电子产品环境试验设备检验方法 太阳辐射试验设备
英文名称:Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products—Solar radiation testing equipments
中标分类: 电工 >> 电工综合 >> 基础标准与通用方法
ICS分类: 试验 >> 环境试验
替代情况:替代GB/T 5170.9-1996
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2008-06-16
实施日期:2008-09-01
首发日期:1985-05-07
作废日期:
主管部门: 中国电器工业协会
提出单位:全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC8)
归口单位:全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC 8)
起草单位:信息产业部电子第五研究所
起草人:伍伟雄、谢晨浩、蔡锦文、张孝华、罗军、薛秀美、孔玉梅、梁为旺、罗国良
出版社:中国标准出版社
出版日期:2008-09-01
页数:12页
计划单号:20064031-T-604
适用范围

GB/T5170的本部分规定了太阳辐射试验设备的检验项目、检验用主要仪器及要求、检验负载、检验条件、检验方法、数据处理结果与检验结果、检验周期等内容。
本部分适用于对GB/T2423.24 《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Sa:模拟地
面上的太阳辐射》所用试验设备的首次检验/验收检验和周期检验。
本部分也适用于类似试验设备的检验。

前言

没有内容

目录

前言…………………………………………………… Ⅰ 1 范围……………………………………………… 1 2 规范性引用文件………………………………… 1 3 术语和定义……………………………………… 1 4 检验项目………………………………………… 1 5 检验用主要仪器及要求………………………… 1 6 检验负载………………………………………… 2 7 检验条件………………………………………… 2 8 检验方法………………………………………… 2 9 数据处理结果与检验结果……………………… 6 10 检验周期……………………………………… 6 附录A (规范性附录) 检验项目的选择………… 7

引用标准

下列文件中的条款通过GB/T5170的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T2423.24  电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Sa:模拟地面上的太阳辐射(GB/T2423.24—1995,idtIEC60068-2-5:1975)
GB/T5170.1—2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GB/T5170.2 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备
GB/T16839.1 热电偶 第1部分:分度表(GB/T16839.1—1997,idtIEC60584-1:1995)
IEC60751 工业铂电阻敏感元件

所属分类: 电工 电工综合 基础标准与通用方法 试验 环境试验
基本信息
标准名称:微束分析 电子探针显微分析 测定钢中碳含量的校正曲线法
英文名称:Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for determining the carbon content of steels using calibration curve method
中标分类: 仪器、仪表 >> 光学仪器 >> 电子光学与其他物理光学仪器
ICS分类: 计量学和测量、物理现象 >> 光学和光学测量 >> 光学测量仪器
替代情况:替代GB/T 15247-1994
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2008-08-20
实施日期:2009-04-01
首发日期:1994-10-17
作废日期:
主管部门:全国微束分析标准化技术委员会
提出单位:全国微束分析标准化技术委员会
归口单位:全国微束分析标准化技术委员会
起草单位:钢铁研究总院
起草人:朱衍勇、钟振前、毛允静
出版社:中国标准出版社
出版日期:2009-04-01
页数:16页
计划单号:20063234-T-469
适用范围

本标准代替GB/T 15247-1994《碳钢和低合金钢中碳的电子探针定量分析方法 灵敏度曲线法(检量线法)》。
本标准规定了用电子探针测定碳钢和低合金钢(其他合金元素质量分数小于2%)中碳含量的校正曲线法。
本标准包含试样制备、Х-射线检测、校正曲线建立以及碳含量检测不确定度的评估。
本标准适用于测定碳的质量分数小于1%的钢中碳含量,当含碳量高于1%时检测准确度会受到很大的影响,不适用于本标准。
本标准适用于垂直入射方式和波谱仪,不适用能谱仪。
本标准与GB/T 15247-1994的主要区别为:
———标准更名为《微束分析 电子探针显微分析 测定钢中碳含量的校正曲线法》;
———在第1章中更清楚地规定了本标准的适用范围;
———为了阐述分析原理,在3.4中增加了“电子束能量与碳Ka峰强度的关系”和“碳Ka峰的组成”两张图表;
———增加了“附录A 校正曲线法中计算值不确定度的评估方法”和“附录B 钢中碳的质量分数测定和不确定度评估举例”。附录A 和附录B为资料性附录;
———增加了“3 检测不确定度评估”的内容,删除了原标准第10章“分析准确度”的内容。

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

没有内容

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