IEC 60749-19 AMD 1-2010 修改件1.半导体器件.机械和环境试验方法.第19部分:剪切强度试验
时间:2024-05-20 10:47:54 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8201
【英文标准名称】:AMENDMENT1Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part19:Dieshearstrengthtest
【原文标准名称】:修改件1.半导体器件.机械和环境试验方法.第19部分:剪切强度试验
【标准号】:IEC60749-19AMD1-2010
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2010-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:芯片;气候;气候试验;组件;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;外壳;环境测试;集成电路;机械测试;半导体器件;半导体;剪切强度;材料强度;试验
【英文主题词】:Chips;Climate;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Semiconductordevices;Semiconductors;Shearstrength;Strengthofmaterials;Testing
【摘要】:AMENDMENT1Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part19:Dieshearstrengthtest
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:8P.;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 产品几何技术规范（GPS） 表面结构 轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性 |
| 英文名称： | Geometrical product specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Nominal characteristic of contact(stylus) instruments |
| 中标分类： |
机械 >>
机械综合 >>
基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
计量学和测量、物理现象 >>
长度和角度测量 >>
测量仪器仪表
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| 替代情况： | 替代GB/T 6062-2002 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2009-03-16 |
| 实施日期： | 2009-11-01 |
| 首发日期： | 1985-06-06 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 提出单位： | 全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会(SAC/TC 240) |
| 归口单位： | 全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会(SAC/TC 240) |
| 起草单位： | 中机生产力促进中心、哈尔滨量具刃具集团有限责任公司、北京计量检测研究院等 |
| 起草人： | 王欣玲、郎岩梅、王忠滨、吴迅、高思田、陈景玉 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2009-11-01 |
| 页数： | 20页 |
| 计划单号： | 20064258-T-469 |
适用范围
本标准规定了轮廓的定义及用于测量表面粗糙度及波纹度的接触（触针）式仪器的通用结构。
本标准还规定了影响轮廓评定的仪器特性，并提供了接触（触针）式仪器（轮廓计和轮廓记录仪）的基本技术规范。
本标准适用于对实际轮廓评定的触针仪器，使现行的国家标准能够用于实际轮廓的评定。
前言
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目录
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引用标准
ＧＢ／Ｔ３５０５—２００９ 产品几何技术规范（ＧＰＳ） 表面结构 轮廓法 术语、定义及表面结构参数
（ＩＳＯ４２８７：１９９７，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ１０６１０—２００９ 产品几何技术规范（ＧＰＳ） 表面结构 轮廓法 评定表面结构的规则和方法ＩＳＯ４２-８：１９９７，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ１８６１８ 产品几何量技术规范（ＧＰＳ） 表面结构 轮廓法 图形参数（ＧＢ／Ｔ１８６１８—２００２，ｅｑｖＩＳＯ１２０８５：１９９６）
ＧＢ／Ｔ１８７７７ 产品几何量技术规范（ＧＰＳ） 表面结构 轮廓法 相位修正滤波器的计量特性
（ＧＢ／Ｔ１８７７７—２００２，ｅｑｖＩＳＯ１１５６２：１９９６）
ＧＢ／Ｔ１８７７８．１—２００２ 产品几何量技术规范（ＧＰＳ） 表面结构 轮廓法 具有复合加工特征的表面 第１部分：滤波和一般测量条件（ｅｑｖＩＳＯ１３５６５-１：１９９６）
ＧＢ／Ｔ１８７７８．２—２００３ 产品几何量技术规范（ＧＰＳ） 表面结构 轮廓法 具有复合加工特征的表面 第２部分：用线性化的支承率曲线表征高度特性（ＩＳＯ１３５６５-２：１９９６，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ１８７７８．３—２００６ 产品几何技术规范（ＧＰＳ） 表面结构 轮廓法 具有复合加工特征的表面 第３部分：用概率支承率曲线表征高度特性（ＩＳＯ１３５６５-３：１９９８，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ１９０６７．１—２００３ 产品几何量技术规范（ＧＰＳ） 表面结构 轮廓法 第１部分：实物测量标准（ＩＳＯ５４３６１：１９９６，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｚ２０３０８—２００６ 产品几何技术规范（ＧＰＳ） 总体规划（ＩＳＯ／ＴＲ１４６３８：１９９５，ＭＯＤ）
所属分类： 机械 机械综合 基础标准与通用方法 计量学和测量 物理现象 长度和角度测量 测量仪器仪表
基本信息
| 标准名称： | 化学试剂 硫脲 |
| 中标分类： |
化工 >>
化学试剂 >>
一般有机试剂、有机溶剂 |
| 替代情况： | 由HG 3-979-1976改号;被HG/T 3454-1999代替 |
| 发布日期： | |
| 实施日期： | 2001-05-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | 2000-06-01 |
| 出版日期： | |
| 页数： | 3页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 化工 化学试剂 一般有机试剂 有机溶剂